解決先進應用晶片的挑戰: 兼顧安全與可靠度的創新記憶體(SRAM)修復技術
2024/07/31
SRAM 是CMOS技術進展的驅動力。隨著AI應用崛起，晶片上的SRAM數量將飆升至數十到幾百MB。原則上，SRAM 的容量(density)越大，產生壞Bit Cell的機率就越高，良率(yield)就面臨了挑戰。除此之外，隨著製程技術的發展，還帶來了其他可能的挑戰...
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